PST-2000 高低温介电测量系统

      经过多年的努力，武汉普斯特已经在材料测试领域成功积累了丰富的测量经验，为了更方便的研究高低温条件下材料的介电性，公司携手国内知名院校联合开发出PST-2000L高低温介电测量系统。 目前该系统可广泛应用于陶瓷材料、半导体器件及功能薄膜材料等研究领域。系统还可以扩展测量样品的 I-V曲线，热释电、高阻测量。

简单描述：

     系统可用于分析宽频、低温条件下被测样品的阻抗Z、电抗X、导纳Y、电导G、电纳B、介电常数ε、介电损耗D、品质因数Q等物理量； ，同时还可以测量样品随温度、频率变化的曲线。通过PST-2000高低温测量软件将这些变化的频率谱、温度谱、偏压谱、阻抗谱、介电谱、cole-cole图等集成一体并进行分析测量。

      测试频率从20Hz到120MHz，高温测量装置温度从室温到1000℃，精度±1℃（国产）或0.01℃（采用进口温控仪），样品形状不限，厚度1-10mm，直径为2-20mm，还可以根据用户的要求定制样品杆。

简单描述：  

     系统可用于分析宽频、低温条件下被测样品的阻抗Z、电抗X、导纳Y、电导G、电纳B、介电常数ε、介电损耗D、品质因数Q等物理量； ，同时还可以测量样品随温度、频率变化的曲线。通过PST-2000高低温测量软件将这些变化的频率谱、温度谱、偏压谱、阻抗谱、介电谱、cole-cole图等集成一体并进行分析测量。

      测试频率从20Hz到120MHz，低温测量装置采用液氮制冷温度可以77k到100℃，精度±1mk（采用进口温控仪），高120mm，口径20mm，内腔750mm，一次加液氮可以连续工作一周，而且液氮利用率高。

简单描述：

     系统可用于分析宽频、低温条件下被测样品的阻抗Z、电抗X、导纳Y、电导G、电纳B、介电常数ε、介电损耗D、品质因数Q等物理量； ，同时还可以测量样品随温度、频率变化的曲线。通过PST-2000高低温测量软件将这些变化的频率谱、温度谱、偏压谱、阻抗谱、介电谱、cole-cole图等集成一体并进行分析测量。 测试频率从20Hz到120MHz

      低温测量装置采用液氮制冷温度可以77k到100℃，精度±1mk（采用进口温控仪），高120mm，口径20mm，内腔750mm，一次加液氮可以连续工作一周，而且液氮利用率高。

      高温测量装置温度从室温到1000℃，精度±1℃（国产）或0.01℃（采用进口温控仪），样品形状不限，厚度1-10mm，直径为2-20mm，还可以根据用户的要求定制样品杆。